電科蓉芯取得基於FPGA的以太網PHY芯片功能測試系統專利
金融界2024年12月7日消息,國家知識產權局信息顯示,成都電科蓉芯科技有限公司取得一項名爲“基於FPGA的以太網PHY芯片功能測試系統”的專利,授權公告號 CN 118884190 B,申請日期爲2024年10月。
本文源自:金融界
作者:情報員
相關資訊
- ▣ 中安芯界取得鋰電池芯片測試用模擬充電系統專利
- ▣ 亞輝龍取得芯片檢測系統專利,此專利技術能夠適用於不同尺寸的芯片本體的檢測
- ▣ 龍迅股份取得一種芯片測試方法及系統專利,提高芯片測試效率。
- ▣ 光本位科技取得一種芯片測試結構的製備方法及系統專利
- ▣ 北京時代民芯科技有限公司取得一種動態可重構芯片的單粒子功能錯誤測試方法及系統專利
- ▣ 上海芯聖電子取得一種芯片仿真系統專利
- ▣ 安路信息申請基於FPGA的全芯片位流仿真專利,提高仿真測試效率
- ▣ 利揚芯片獲得發明專利授權:“一種紅外接收芯片測試修調系統”
- ▣ 盛科通信-U申請芯片測試系統及方法專利,提高芯片測試效率,且成本低
- ▣ 曠泰科技取得一種芯片高壓測試裝置專利
- ▣ 普冉股份取得芯片測試相關專利,便於測試工程師及時發現芯片疊料或卡料
- ▣ 龍芯中科申請芯片、芯片測試方法、電子設備以及存儲介質專利,大大減少測試成本
- ▣ 天準科技取得基於遷移學習的半導體芯片檢測技術專利,實現小樣本條件下有效地完成芯片缺陷的識別提取功能
- ▣ 克姆爾科技取得用於芯片的真空吸取器專利,提高芯片安全性
- ▣ 全志科技申請 SOC 芯片測試相關專利,提升芯片測試效率
- ▣ 杭州傲芯科技申請用於芯片DFT的高可靠性測試向量讀取電路及方法專利,提高了測試向量的穩定性
- ▣ 晶合集成取得一項半導體芯片測試電路結構專利,能提高半導體芯片的缺陷或腐蝕的檢測效率
- ▣ 永鼎股份取得芯片表面缺陷檢測方法及系統專利
- ▣ 南京芯視元取得芯片光學特性測試設備專利,設備批量測試效率高
- ▣ 山石網科:ASIC芯片試產流片內部測試取得良好結果
- ▣ 阿里生物取得用於盤式芯片檢測的試劑球及其製備方法專利
- ▣ 瀋陽芯碩科技取得一種單片機電力測試設備專利,提高設備的穩定性
- ▣ 北方奧鈦、銀隆新能源取得電芯短路測試工裝專利
- ▣ 西安智多晶微電子取得用於FPGA芯片的高速串並轉換接口字同步方法和電路專利
- ▣ 豐嘉科技取得具備網絡智能控制以及電池均衡功能的電源管理系統專利
- ▣ 國芯科技:高性能AI MCU芯片新產品內部測試成功
- ▣ 天寬科技取得基於雲服務的供電網絡安全監控系統專利
- ▣ 奇點物聯網取得智能穿戴設備芯片儲料裝置專利,能夠便於工作人員快速取出芯片
- ▣ 江西耀馳科技取得基於微反射鏡的 LED 芯片及其製備方法專利